HJ780-2015 1

1 适用范围 4

2 规范性引用文件 4

3 方法原理 4

4 干扰和消除 4

5 试剂和材料 5

6 仪器和设备 5

7 样品 5

8 分析步骤 5

9 结果计算与表示 6

10 精密度和准确度 6

11 质量保证和质量控制 6

12 注意事项 7

附录A（规范性附录）方法检出限和测定下限 8

附录B（资料性附录）基体效应校正、谱线重叠干扰情况 9

附录C（资料性附录）分析仪器参考条件 11

附录D（资料性附录）测定元素校准曲线范围 16

附录E（资料性附录）方法的精密度和准确度汇总数据 17